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可测试性设计是什么意思_可测试性设计的含义解释

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可测试性设计(英语:Design for Testability, DFT)是一种集成电路设计技术,它将一些特殊结构在设计阶段植入电路,以便设计完成后进行测试。 — 拼音 kě cè shì xìng shè jì,更新 2026-07-13 23:41:14

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拼音kě cè shì xìng shè jì
拼音字母ke ce shi xing she ji
首字母kcsxsj
注音ㄎㄜˇ ㄘㄜˋ ㄕˋ ㄒㄧㄥˋ ㄕㄜˋ ㄐㄧˋ
注音符号ㄎㄜ ㄘㄜ ㄕ ㄒㄧㄥ ㄕㄜ ㄐㄧ
扩展释义:可测试性设计(英语:Design for Testability, DFT)是一种集成电路设计技术,它将一些特殊结构在设计阶段植入电路,以便设计完成后进行测试。
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